電子產(chǎn)品跌落測試方法有哪些?

                 電子產(chǎn)品跌落測試方法有哪些?

　　跌落測試簡介

　　跌落測試通常是主要用來模擬產(chǎn)品在搬運(yùn)期間可能受到的自由跌落，考察產(chǎn)品抗意外沖擊的能力。通常跌落高度大都根據(jù)產(chǎn)品重量以及可能掉落機(jī)率做為參考標(biāo)準(zhǔn)，落下表面應(yīng)該是混凝土或鋼制成的平滑、堅硬的剛性表面(如有特殊要求應(yīng)以產(chǎn)品規(guī)格或客戶測試規(guī)范來決定)。

　　對于不同國際規(guī)范即使產(chǎn)品在相同重量下但掉落高度也不相同，對于手持型產(chǎn)品(如手機(jī)、平板等)大多數(shù)掉落高度大都介于100cm ~ 150cm不等，IEC對于≦2kg之手持型產(chǎn)品建議應(yīng)滿足100cm之掉落高度不可損壞，MIL則建議掉落高度為122cm，Intel對手持型產(chǎn)品(如手機(jī))則建議落下高度為150cm。試驗的嚴(yán)苛程度取決于跌落高度、跌落次數(shù)、跌落方向。

                                                          

　　電子產(chǎn)品跌落測試方法及試驗條件

　　方法一：自由跌落

　　目的：確定產(chǎn)品在搬運(yùn)期間由于粗率裝卸遭到跌落的適應(yīng)性，或確定安全要求用的最低牢固等級。本試驗主要用于非包裝的試驗樣品，以及在運(yùn)輸箱中其包裝可以作為樣品一部分的試驗樣品。

　　試驗條件：

　　試驗表面：試驗表面應(yīng)該是混凝土或鋼制成的平滑、堅硬的剛性表面。必要時，有關(guān)規(guī)范可以規(guī)定其他表面。

　　跌落高度：是指試驗樣品在跌落前懸掛著的時候，試驗表面與離它最近的樣品部位之間的高度。

　　釋放方法：釋放試驗樣品的方法應(yīng)使試驗樣品從懸掛著的位置自由跌落。釋放時，要使干擾最小。

　　嚴(yán)酷等級：應(yīng)從下列諸值中選取跌落高度：(25)、50、(100)、250、(500)、(1000)mm。帶括號的數(shù)值是優(yōu)選值。注：重型設(shè)備不宜經(jīng)受較高的嚴(yán)酷等級。

　　除非有關(guān)規(guī)范另有規(guī)定，試驗樣品應(yīng)該從每個規(guī)定的位置跌落兩次。試驗樣品應(yīng)按有關(guān)規(guī)范進(jìn)行外觀檢測、電性能和機(jī)械性能檢測。

　　方法二：重復(fù)自由跌落

　　目的：確定可能頻繁跌落到硬表面的接有電纜的元件型裝置，例如連接器和小型遙控裝置，經(jīng)受重復(fù)跌落的適應(yīng)性。

　　一般說明：本試驗方法是使試驗樣品從規(guī)定的高度按規(guī)定的次數(shù)跌落到硬表面上，為了模擬實際條件，每個試驗樣品應(yīng)單獨受試，并且通常都帶有一段電纜。試驗的結(jié)果應(yīng)通過試驗樣品的機(jī)械、電性能的變化來評定。

　　嚴(yán)酷次數(shù)：50、100、200、500、1000.

　　跌落高度為：500mm

　　跌落頻率：每分鐘十次。

　　跌落試驗-標(biāo)準(zhǔn)

　　◆ GB/T 4857.1 ◆ GB/T 4857.2 ◆ GB/T 4857.5 ◆ GB/T 4857.17 ◆ GB/T 4857.18

　　跌落試驗-跌落高度

　　針對跌落實驗國家有專門的標(biāo)準(zhǔn)，跌落方式都是一角、三邊、六面之自由落體，跌落的高度是根據(jù)產(chǎn)品重量而定。

　　分2250px、1900px、1625px幾個等級

　　包裝貨物重量(lbs)/(㎏)落下高度(inches)/(㎝)

　　1-20.99 lbs(0.45-9.54㎏)0in /(76.20㎝)

　　21-40.99 lbs(9.55-18.63㎏)24in /(60.96㎝)

　　41-60.99 lbs(18.64-27.72 ㎏)18in /(45.72㎝)

　　61-100 lbs(27.73-45.45㎏)2in /(30.48㎝)